晶体管参数测试仪系统可实现曲线跟踪器，如击穿电压VCES/VDSs漏极电流ICEs/LGEs/IGSs/lDSs阈值电压/VGE导通电压/VCE跨导/Gfe/Gfs压降/Vf导通电阻Rds12结电容参数也可测试，如Cka、Ciss、Crss、Coss13脉冲电流自动加热功能，方便高温测试。
1、晶体管参数测试仪系统DCT2000晶体管参数测试仪系统可以测试很多电子元器件的静态DC参数，比如击穿电压VCES/VDSs漏极电流ICE/LGES/IGSS/LDSS阈值电压/VGE导通电压/VCE跨导/Gfe/Gfs压降/Vf导通电阻Rds。测试类别涵盖7大类26大类，包括二极管三极管，如BJTMOSFETIGBT保护器件、稳压集成、继电器、光耦、传感与监控等多种电子元器件。
便于对整个电子机的整体设计和使用过程提出改进方案。3.在将所有器件焊接到电路板之前，对其进行选择和配对，并使用相对一致的测试数据对器件进行分类和配对。4.电子厂的受检所和品质部IQC对受入的器件进行抽检/全检，控制器件的良品率。5.大规模生产测试可以连接各种辅助机械设备，如机械手扫描仪分拣机。实现大规模自动测试6替代进口DCT2000晶体管参数测试仪系统可替代同级别进口产品。产品特点1。可编程高压源101400V，2000V可选2可编程大电流源1uA100A，40A，200A，500A可选3驱动电压10mV40V4控制电极电流10uA10mA516位ADC，100K/S采样率6自动识别器件极性NPN/PNP7曲线跟踪器，四线开尔文连接保证加载测量精度8通过RS232接口连接校准数字表，检查系统。9不同的包装形式提供相应的夹具和适配器，如TO220SOP-8DIPSOT-23等。10晶体管参数测试仪系统可以测量许多电子元件，如二极管三极管MOSFETIGBT可控硅光耦继电器等。11晶体管参数测试仪系统可实现曲线跟踪器，如击穿电压VCES/VDSs漏极电流ICEs/LGEs/IGSs/lDSs阈值电压/VGE导通电压/VCE跨导/Gfe/Gfs压降/Vf导通电阻Rds12结电容参数也可测试，如Cka、Ciss、Crss、Coss13脉冲电流自动加热功能，方便高温测试。不需要插上升温装置。14探针接口Handler接口可选16Bin，可以连接效率最高的1h/9000的分拣机。15晶体管参数测试仪系统广泛应用于各大电子厂的IQC实验室。第三部分:产品介绍3.1产品介绍DCT2000晶体管参数测试仪系统是我们的技术团队经过多年的晶体管参数测试仪系统经验和对国内外众多测试系统产品的熟悉，自主研发设计的新一代晶体管参数测试仪系统。
2、霍尔效应 电流 传感器 acs712怎么测 电流输出为正弦波电压，DC偏移为2.5V，不能使用分压滤波。低通分压滤波导致DC分量，当信号没有DC分量时，滤波结果是2.5V的DC..可以用排序滤波器，因为电压很低，二极管压降不可忽略，可以用运算放大器和二极管组成的绝对值电路。运算放大器的参考电压连接到2.5V，从而可以消除2.5V的DC偏移，绝对值电路是百度文库自己搜索的。绝对值电路后可加积分器或低通滤波器，输出为DC，将DC乘以1.1107得到正弦波的有效值。
