56年，贝尔实验室用晶体管取代了电子管，制成了世界上第一台全晶体管计算机Lepreachaun,第二代计算机中使用的电子器件元件Yes晶体管,晶体管是固体半导体器件晶体管是指所有基于半导体材料的单元件包括二极管三极管场效应晶体管各种半导体材料制成的晶闸管。
DCT2000 晶体管参数测试仪系统可以测试很多电子元器件的静态DC参数，比如击穿电压VCES/VDSs漏电流ICE/LGES/IGSS/LDSS阈值电压/VGE开启电压/VCE跨导/Gfe/Gfs压降/Vf导通电阻Rds。测试类别涵盖7大类26大类，包括二极管三极管，如BJTMOSFETIGBT保护器件、稳压集成、继电器、光耦、传感与监控等多种电子元器件。
便于对整个电子机的整体设计和使用过程提出改进方案。3.在将所有器件焊接到电路板之前，对其进行选择和配对，并使用相对一致的测试数据对器件进行分类和配对。4.电子厂的受检所和品质部IQC对受入的器件进行抽检/全检，控制器件的良品率。5.大规模生产测试可以连接各种辅助机械设备，如机械手扫描仪分拣机。实现大型自动测试6替代进口DCT2000 晶体管参数测试仪系统可替代同级别进口产品。产品特点1。可编程高压源101400V，2000V可选2可编程大电流源1uA100A，40A，200A可选3驱动电压10mV40V4控制电极电流10uA10mA516位ADC，100K/S采样率6自动识别器件极性NPN/PNP7曲线跟踪器，四线开尔文连接保证加载测量的准确性8通过RS232接口连接校准数字表，检查系统。9不同的包装形式提供相应的夹具和适配器，如TO220SOP-8DIPSOT-23等。10 晶体管参数测试仪系统可以测量许多电子元件，如二极管三极管MOSFETIGBT晶闸管光耦继电器等。11 晶体管参数测试仪系统可实现曲线跟踪器，如击穿电压VCES/ VDSs漏电流ICE/LGES/IGSS/LDSS阈值电压/VGE开启电压/VCE跨导/Gfe/Gfs压降/Vf导通内阻Rds12结电容参数也可测试，如Cka、Ciss、Crss、Coss13脉冲电流自动加热功能，方便高温测试。不需要插上升温装置14，14Prober接口和Handler接口可以是16Bin。连接分拣机效率最高的是1h/9000 15 晶体管参数测试仪系统广泛应用于各大电子厂的IQC实验室第三部分:产品介绍3.1产品介绍DCT2000 晶体管参数测试仪系统由我们的技术团队结合晶体管多年的参数测试仪系统经验，
